Kättesaadav autoriseeritud töökohal Eesti Rahvusraamatukogus, Eesti Kirjandusmuuseumi Arhiivraamatukogus, Tallinna Tehnikaülikooli Raamatukogus, Tartu Ülikooli Raamatukogus ja Tallinna Ülikooli Akadeemilises Raamatukogus
Kättesaadav Eesti Rahvusraamatukogu sisevõrgus
Kättesaadav välisvõrgus
Characterization of silicon carbide (SiC) and graphene-based novel semiconductor devices = Ränikarbiidil (SiC) ja grafeenil pōhinevate uudsete pooljuhtstruktuuride karakteriseerimine
Autor: Muhammad Haroon Rashid, Tallinna Tehnikaülikool. Elektroonikainstituut, Juhendaja: Ants Koel, Toomas Rang
Vaata
![Müürilehed ; 1945-01 [275]](/arhiiv/assets/thumbdef/shelf_empty-0dd7b3d914ab0ca1d1ba007da1745a76.png)